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平面芯片思维的终结:三星3D IC架构如何重塑晶圆代工世界

本文是“2022年三星SAFE论坛——Samsung Foundry设计平台会议演讲”系列深度评述文章之一。文中分享了与SAFE生态系统重要技术和进展有关的专家观点。

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世界不是平的,晶圆代工行业也是如此。对性能的需求不断变化,竞争格局也在持续改变,这是一个因创新而繁荣的多维市场。尽管晶圆代工行业经历了天翻地覆的变化,芯片设计基本上仍然拘泥于传统的平面架构。 不过,平面架构是否真能释放理想的性能? Samsung Foundry 却并不认为这就是终点,因此打造出了 3D IC,这种立方体式的解决方案提供更高水平的性能,超越了传统的性能尺度。3D IC 这种多层基础架构是我们从二维芯片转向三维立体芯片转型的关键,它实现了存储和性能的结合,让“延续摩尔定律”的未来成为现实。 改变形态,改变未来
在圣何塞举行的 2022 年三星SAFE论坛上,当Samsung Foundry设计技术团队负责人Sangyun Kim迈上讲台发表主题演讲时,他向半导体行业传递了一条熟悉的讯息。 他说:“计算需求在快速增加。”并且工艺升级本身不足以赶上需求的增长步伐。他的团队需要确保客户跑赢这些快速的变化,这也是Cube(立体)技术诞生背后的主要推手。 3D IC Cube技术将芯片堆叠为一个立体的结构,将多种解决方案的性能集成到一个统一的单元中。堆叠后芯片之间的通信速度更快,因为与一维平面芯片设计相比,交换信息时信息的传递距离更短。节省空间和成本也是这种方案的优点之一。 不过也许更重要的是,它改进了对所谓“异构集成”的应用,即在单个堆栈中综合多个互补的芯片,从而综合利用各自的优点。 “例如,顶部裸片可能是用于实现高性能的3GAA。底部裸片可能是SF4,甚至传统节点的芯片,用于节省成本或进行 IP 复用”,Kim介绍说。 通过在小空间容纳更多的功能,3D IC解决方案扩展了摩尔定律的翻倍能力,这在平面芯片时代是不可想象的。 而正如预期的那样,在平面芯片中创建立体设计带来了新的晶圆代工挑战。 3D设计的挑战
3D IC解决方案只能利用先进的晶圆代工工艺来实现,没有硅通孔(TSV)技术,立体解决方案根本无法实现。 这种技术让晶圆之间的连接更快速、更高效。在立体结构中,TSV用于为顶部裸片构建PDN,同时对于顶部和底部裸片之间的信号传输也至关重要,从而提供客户需要的超快连接。使用TSV技术需要克服多方面的挑战。除此之外,我们需要提供一个电量传输网络,以通过这些TSV和Ubump来支持3D IC堆栈,同时还必须满足IR和电磁辐射(EM)要求。 在同一裸片中支持中间层TSV和最后一层TSV,是我们找到的低电阻电量传输解决方案。我们还支持多种类型的TSV捆绑,以进一步减少高性能应用的IR/EM风险。此外,我们通过应力模拟和硅验证减少了TSV及其排除区城浪费,从而可以将某些器件放置到排除区城中,减少面积浪费。最后,我们开发了一种更倾向宏观整体的平面摆放指南,以让我们的设计流程具有TSV意识。 基于Ubump键合技术是3D IC工艺的另一关键技术。Samsung Foundry的Ubump键合技术经过了各种解决方案的测试,并已获准量产,让3D IC能够以低成本在各种设备中实现。这让客户可以利用这些基本的技术以及 PDK、DK、IP、DM设计基础设施,轻松开始设计3D IC。 一个设计问题 不过在实施3D IC解决方案时,存在另一个平面芯片不会出现的问题:功能模组是该放在顶部还是底部? 为帮助客户解答这一问题,我们与 EDA 合作伙伴联合开发了一种分区方法论,以在早期设计阶段使用。借助这些方法论,每个DOE都可以进行电压降(IR)分析,并让设计师可以选择适合其用途的候选方案。其优势是多方面的:通过从适合的候选分区方案开始3D IC设计,相较传统方法,可缩短交付周期。 尽管立体设计存在多方面的挑战,我们只需在传统2D设计工作流程的基础上增加几个额外的步骤,即可创建 3D 设计。其中大部分额外的步骤都在于TSV的放置,此外顶部和底部裸片之间的 Ubump对齐也需要单独的步骤。 为确保性能达到并超越标准,我们高度重视测试。我们首先对顶部和底部裸片进行单独测试,然后对整个3D结构进行IEEE标准1838测试,以确保理想的裸片堆叠。 “由于这种解决方案为键合前和键合后测试提供了基本的3D测试架构,它不仅让我们有机会提高堆叠裸片模式的效率,同时也有利于保证质量”,Kim向参加三星SAFE论坛的观众解释道。如果测试结果显示存在预料之外的缺陷,三星的智能通道修复解决方案可进行必要的修改来提高良率。 减少关口以改进签收时序
签收挑战是3D IC架构的天然结果——这是指不同的签收关口可能缺乏控制。这是在每个芯片上使用不同的技术进行制造的副作用。为解决这一问题,三星开发了一种称为减少关口的新方法学,这种方法在时序签收中使用主导关口,而不是全部的组合。 而对于IR/EM签收,三星面临了一种完全不同的挑战。由于裸片通过TSV供电,后者在现有的 2D 设计中是不存在的,每个裸片的电压降(IR)/ 电迁移(EM)可能会相互影响。为解决这一问题,我们同时分析了多芯片的 IR/EM。 携手重塑性能
紧密合作是半导体创新的重要推动力量,许多解决方案都是我们与EDA生态系统合作伙伴共同努力的直接结晶。 “当然,克服新的技术挑战只是我们与EDA合作的内容之一”,Kim提醒观众。Samsung Foundry与四家主要的EDA携手,成功开发了从合成到签核的3D IC设计工作流程,这一成功的实现与专注于创造更优工作流程的SAFE EDA合作伙伴的帮助不可分割。 无论是哪种技术,变革都来自于客户的需求。对多芯片堆叠技术的需求与日俱增,催生出2.5D和3D解决方案,打开了新的性能和能效维度。而要满足这些需求,并没有一招鲜吃遍天的方法。这需要我们走出平面思维的局限,在全新的维度中探索。就如人类摆脱地球是平的这一认识,Samsung Foundry不断突破自我,以重塑其产品和行业,努力为客户提供更高层次的创新。